Способ относится к технике измерения параметров полупроводниковых светоизлучающих гетероструктур и светодиодов на их основе и может быть использован для контроля качества светодиодов и их разделения по уровню дефектности.
Способ измерения порогового тока светодиода, при котором измеряют ватт-амперную характеристику светодиода путем измерения мощности оптического излучения светодиода Рk при нескольких (не менее 10) значениях электрического тока Ik, при которых уровень сигнала фотоприемника в несколько раз превышает уровень темнового сигнала, полученную экспериментальную ватт-амперную характеристику Pk(Ik) аппроксимируют методом наименьших квадратов функцией вида P(I)=A(I-Iпор)β. По результатам аппроксимации за измеренное значение порогового тока светодиода принимают расчетное значение Iпор аппроксимирующей функции.
Технический результат состоит в исключении зависимости результата измерения порогового тока светодиода от характеристик фотоприемника и точности оптической юстировки светодиода и фотоприемника при измерении.